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Article
Analysis and prevention of DRAM latch-up during power-on
SCIE
SCOPUS
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, vol. 32, no. 1, page. 79 - 85, 1997-01
Kim, YH
;
Sim, JY
;
Park, HJ
;
Doh, JI
;
Park, KW
;
et al
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