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웨이퍼 테스트 데이터의 공간적 특성을 고려한 언더샘플링(under-sampling) 방법 개발: 잠재 불량 탐지 모델 개발 사례 연구
- Title
- 웨이퍼 테스트 데이터의 공간적 특성을 고려한 언더샘플링(under-sampling) 방법 개발: 잠재 불량 탐지 모델 개발 사례 연구
- Authors
- BAE, YOUNG MOK; KIM, KWANG JAE
- Date Issued
- 2023-06-01
- Publisher
- 대한산업공학회
- Article Type
- Conference
- Citation
- 2023 Spring Conference of Korean Institute of Industrial Engineers, 2023-06-01
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