IDDQ 테스팅을 위한 내장형 전류감지 회로 설계
- Title
- IDDQ 테스팅을 위한 내장형 전류감지 회로 설계
- Authors
- 김정범; 홍성제; 김종
- Date Issued
- 1997-01
- Publisher
- 대한전자공학회
- URI
- https://oasis.postech.ac.kr/handle/2014.oak/30421
- ISSN
- 1226-5853
- Article Type
- Article
- Citation
- 전자공학회논문집, no. 8, page. 49 - 63, 1997-01
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