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Showing results 1 to 1 of 1
Article
Sapphire orientation dependence of the microstructure of ZnO thin film during annealing
SCIE
SCOPUS
JOURNAL OF ELECTROCERAMICS, vol. 17, no. 39848, page. 231 - 234, 2006-12
Cho, TS
;
Yi, MS
;
Jeung, JW
;
Noh, DY
;
Kim, JW
;
et al
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