테라헤르츠 엘립소메트리를 이용한 도핑된 실리콘의 전기적 광학적 물성 분석
- Title
- 테라헤르츠 엘립소메트리를 이용한 도핑된 실리콘의 전기적 광학적 물성 분석
- Authors
- 한해욱
- Date Issued
- 2008-07-11
- Publisher
- OSK
- URI
- https://oasis.postech.ac.kr/handle/2014.oak/46635
- Article Type
- Conference
- Citation
- OSK 하계학술대회 2008, 2008-07-11
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