Full metadata record
DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | 강봉구 | - |
dc.date.accessioned | 2018-06-15T07:44:54Z | - |
dc.date.available | 2018-06-15T07:44:54Z | - |
dc.date.created | 2009-08-13 | - |
dc.date.issued | 2002-01-01 | - |
dc.identifier.uri | https://oasis.postech.ac.kr/handle/2014.oak/52707 | - |
dc.publisher | 컴퓨터/반도체 소사이어티 추계학술대회 | - |
dc.relation.isPartOf | 컴퓨터/반도체 소사이어티 추계학술대회 | - |
dc.relation.isPartOf | 컴퓨터/반도체 소사이어티 추계학술대회 | - |
dc.title | Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 Idlin 열화 모델 구현 | - |
dc.type | Conference | - |
dc.type.rims | CONF | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 컴퓨터/반도체 소사이어티 추계학술대회, pp.395 - 398 | - |
dc.citation.conferenceDate | 2002-01-01 | - |
dc.citation.conferencePlace | KO | - |
dc.citation.endPage | 398 | - |
dc.citation.startPage | 395 | - |
dc.citation.title | 컴퓨터/반도체 소사이어티 추계학술대회 | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 강봉구 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
- Files in This Item:
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.