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OASIS Repository@POSTECHLIBRARY
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Article
Performance and Variations Induced by Single Interface Trap of Nanowire FETs at 7-nm Node
SCIE
SCOPUS
IEEE Transaction on Electron Devices, vol. 64, no. 2, page. 339 - 345, 2017-02
Yoon, J.-S
;
Kim, K
;
Rim, T
;
Baek, C.-K.
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