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웨이퍼 내 칩 간 공간적 유사성과 검사항목 간 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발
- Title
- 웨이퍼 내 칩 간 공간적 유사성과 검사항목 간 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발
- Date Issued
- 2022-11-04
- Publisher
- 대한산업공학회
- Article Type
- Conference
- Citation
- 2022 대한산업공학회 추계학술대회, 2022-11-04
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Related Researcher
- 김광재KIM, KWANG JAE
- Dept. of Industrial & Management Eng.