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Browsing "1. Journal Papers" by Subject10-nm node
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Article
Process-Induced Variations of 10-nm Node Bulk nFinFETs Considering Middle-of-Line Parasitics
SCIE
SCOPUS
IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 63, no. 9, page. 3399 - 3405, 2016-09
Yoon, JS
;
Chang-Ki Baek
;
Baek, RH
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