대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조
- Title
- 대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조
- Authors
- 김종
- Publisher
- 서울대학교, 서울
- URI
- https://oasis.postech.ac.kr/handle/2014.oak/91468
- Article Type
- Conference
- Citation
- 한국정보과학회 2004년도 추계 학술발표, page. 649 - 651
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