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Conference

Detecting Abnormal Behavior of Wafer Test Equipment using Auto-encoder with Event Log Data

2022 INFORMS Annual Meeting, 2022-10-16

Conference

Developing Risky Driving Classification Model using Bus Driving Data in Korea

INFORMS Annual Meeting 2016 Nashville, 2016-11-16

Conference

Edge Characteristics Metric-Based Under-Sampling for Enhanced Latent Defect Chip Detection Model in Wafer Test

2023 INFORMS Annual Meeting, 2023-10-16

Conference

Edge Characteristics Metric-Based Under-Sampling for Enhanced Latent Defect Detection in Semiconductor Industry

Proceedings of The 19th China-Korea Bilateral Symposium on Quality, 2023-08-26

Conference

Explainable Condition Monitoring of Ship’s Main Engine: A Case Study of Overcoming SHAP Limitation through Multicollinearity Removal

Proceedings of The 19th China-Korea Bilateral Symposium on Quality, 2023-08-26

Conference

Finding 'Golden Paths' from Multi-stage Manufacturing Processes for Enhancing Product Quality

The Sixth International Research Conference on Systems Engineering and Management Science (IRC-SEMS2018), 2018-04-27

Conference

MCC SHAP을 활용한 선박 메인 엔진 이상 탐지 사례연구

2023 Fall Conference of Korean Institute of Industrial Engineers, 2023-11-03

Conference

PCB 기반 측정데이터 결측값 대체의 사례연구를 통한 발전방향 도출

2022 한국품질경영학회 춘계학술대회, 2022-05-20

Conference

Suspicious Machine Screening in Serial–Parallel Multistage Manufacturing Process with a Nominal Quality Feature: A Production Log Data-based Approach

2022 INFORMS Annual Meeting, 2022-10-16

Conference

공간 차원 기반의 wafer bin map 불량 패턴 분류체계 개발

2020 대한산업공학회 추계학술대회, 2020-11-13

Conference

공간 차원 기반의 wafer bin map 불량 패턴 분류체계 개발

2021 Fall Conference of Korean Society of Quality Management, 2020-10-23

Conference

공정 경로 중복 현상이 존재하는 다단계-다중설비 제조 공정의 결함 의심 설비 선별 방법 개발

2022 한국품질경영학회 춘계학술대회, 2022-05-20

Conference

다단계 제조 공정의 ‘BoB’/’WoW’ 공정 경로 도출 방법에 관한 사례 연구

2019 대한산업공학회 추계학술대회, 2019-11-08

Conference

반도체 제조 공정 내 웨이퍼 결함 패턴 관련 핵심 설비 탐색

2021 Spring Conference of Korean Society of Quality Management, 2020-07-06

Conference

반도체 테스트 장비의 이벤트 로그를 활용한 장비의 이상 동작 패턴 탐지 방법 개발

2022 대한산업공학회 추계학술대회, 2022-11-04

Conference

웨이퍼 내 칩 간 공간적 유사성과 검사항목 간 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발

2022 대한산업공학회 추계학술대회, 2022-11-04

Conference

웨이퍼 맵의 정량적 분류 체계 개발

2019 대한산업공학회 추계학술대회, 2019-11-08

Conference

웨이퍼 테스트 데이터의 공간적 특성을 고려한 언더샘플링(under-sampling) 방법 개발: 잠재 불량 탐지 모델 개발 사례 연구

2023 Spring Conference of Korean Institute of Industrial Engineers, 2023-06-01

Conference

잠재적 결함 검출 모델 성능 향상을 위한 Edge Characteristics Metric 기반의 하이브리드 샘플링

2023 Fall Conference of Korean Institute of Industrial Engineers, 2023-11-03

Conference

장비 이벤트 로그를 활용한 반도체 테스트 장비 이상 탐지 사례 연구

2022 대한산업공학회 춘계학술대회, 2022-06-03

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